二手 JEOL 35S #9375350 待售

JEOL 35S是一種掃描電子顯微鏡（SEM），具有較大的景深和高分辨率成像能力。該儀器視野廣闊，提供高對比度圖像，可用於精確測量和分析。該檢測系統具有高靈敏度和低噪聲底板，能夠準確估計樣品特征及其大小。該系統還可以容納多種樣品類型，包括導電材料和非導電材料，提供廣泛的成像能力。35S的設計基於由鎳/熒光粉（apochromat type）制造的柱狀透鏡，該透鏡是為最大分辨率而建造的。它在微觀分析過程中也不會產生熱失真，並提供所有放大倍數的高強度。JEOL 35S的主要電子源是一種鎢場發射槍，可在多種環境下操作。1-30 kV的空白加速電壓範圍為成像提供了廣泛的動態範圍。該槍提供低背景電流噪聲，使得拍攝小型和詳細樣本的圖像成為可能。35S上的探測器是由12個二次電子（SE）探測器組成的陣列，由一個柱內偏轉器和一個環形亮場（ABF）探測器組成。ABF探測器可提供高分辨率的放大倍率成像,而偏轉器可增強非導電表面圖像的對比度。其他探測器包括反向散射電子探測器（BSED）和陰極發光探測器（CLD）。JEOL 35S配備了一個機動級，允許X、Y和Z軸上的樣品移動以進行精確定位。顯微鏡的軟件易於使用，具有自動聚焦、對比度增強和先進的圖像處理能力。35S也可以用它的電子微探針進行微觀分析。它支持能量色散X射線（EDS）和波長色散X射線（WDS）光譜測量成像之外的元素組成。總體而言，JEOL 35S具有高分辨率成像能力，可以從各種樣本類型中捕獲精確的圖像。它能夠容納列內和環形探測器，因此適合不同的應用。此外，它的軟件特性和樣品操作的靈活性使它成為任何實驗室都非常可靠和寶貴的工具。