二手 JEOL 4500 #9253502 待售

JEOL 4500
製造商
JEOL
模型
4500
ID: 9253502
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) (2) Columns: 30 kV Column with LaB6 electron gun used in SEM 30 kV Ion column with Ga+ion source to allow in FIB FIB Resolution: 5 nm @ 30 kV Accelerating voltage: 1 to 30 kV Magnification: 30x to 300,000x Maximum beam current: 30 nA @ 30 kV SEM Resolution: 2.5 nm @ 30 kV Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV Magnification: 5x to 300,000x.
JEOL 4500是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),用於微量和納米級的材料分析和成像。這臺掃描電子顯微鏡配備了一個能量色散X射線探測器(EDS),可以測量樣品表面上元素的波長和化學成分。4500旨在為各種材料提供高分辨率成像。SEM配備了內置雙束技術,由高速二次電子(SE)檢測器和能量較低、分辨率較高的成像檢測器組成。這種組合使得它適用於各種高分辨率成像技術,如線掃描、二次電子成像和反向散射電子成像。顯微鏡還提供快速成像速度和半自動聚焦系統,以減少操作員疲勞,提高操作員精度。JEOL 4500提供2 nm的最大成像分辨率,非常適合詳細捕獲結構,包括薄膜、納米線和集成電路。SEM還配備了高靈敏度EDS檢測器,可以檢測樣品表面上微量元素到十億分之幾的濃度。與傳統的SEM相比,4500提供了改進的電子槍燈絲壽命,典型的壽命長達4000小時。這延長了維護之間的時間,並在長時間的使用過程中保持了儀器的穩定性。SEM還采用了專利場發射器設計,以提高電流密度,從而產生更高的電子產率和減少光束模糊。JEOL 4500由於其內置的自動化功能而易於操作,例如掃描序列設置、定格采集、電動級控制和自動聚焦。顯微鏡還配備了高靈敏度的數字計算機,用於存儲用戶設置和圖像數據。數位電腦也被用於控制測量參數。總體而言,4500是一種先進的掃描電子顯微鏡,用於材料分析和成像。與傳統的SEM相比,它提供了更好的分辨率和準確性,同時還具有自動化的特性,以及長時間使用的持久電子槍燈絲。
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