二手 JEOL 5310 #9200586 待售
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已售出
ID: 9200586
Scanning electron microscope
High vacuum operation:
With diffusion pump & roughing pump
HASKRIS Water chiller included for diffusion vacuum pump
With diameter 10 ft water interconnect hoses
Polaroid film camera
With digital camera system similar to astronomical camera
Basic technical & mechanical parameters:
Magnification: 35x - 200000x
Working distance: 8 mm to 48 mm
Specimen size:
Diameter: 72 mm (Maximum)
Height: 40 mm (Maximum)
Specimen goniometer stage: X, Y, Z, Rotation
Control: Manual
X-Y: 38 mm x 70 mm
Tilt: -10° to ～＋70°
Rotation: 360°
Operates on 120 VAC
Console measures:
Length: 62
Depth: 30
Height: 48
OXFORD Energy dispersive X-ray spectroscopy
Includes:
Manuals
Hardware / Cabling
Tran slink
Electron gun filaments
Basic PC's are included with adaptors & cables
Not included: Software
Power: 0.5 kV to 30 kV.
JEOL 5310是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），可用於多種研究用途。SEM是單光束和雙光束能量色散X射線光譜（EDS和EBSD）的理想選擇。除了高分辨率的成像能力和它們的綜合分析外，這種儀器適合探測廣泛的材料。5310 SEM的發射電流為0.05至5納米安培，具有廣泛的多重二次電子檢測範圍。利用大電流調節旋鈕和端口擴展，可以檢測和量化各種特征。它具有2、3、5、8、10、15、20和30 KV的加速電壓。此SEM還可用於像素和線掃描圖像記錄以及各種圖像處理和分析。為了使SEM以穩定的方式運作，它已經配備了能夠偵測到快速變化的自動調諧系統。這允許用戶與當前實時圖像質量和圖像路徑保持聯系。JEOL 5310的最大分辨率為0.25納米，大視野為3.8 cm x 3.8 cm，同時具有改進的電子光學系統，總共支持六種不同的物鏡。5310提供了大量的配件選擇，如偏振濾波器、新月場和不同類型的探測器，使用戶能夠相應地配置機器。JEOL 5310的分析能力包括用於定性和定量分析的EDS和EBSD，以及用於元素映射和線掃描的STEM。一種特殊的低壓探測器的電流增加使得在比標準SEM所能達到的更短的加速電壓下獲取非常高分辨率的圖像成為可能。最後，5310有常規圖像處理和圖像分析的軟件包，包括掃描電子顯微鏡、STEM成像和電子衍射。因此，JEOL 5310是材料研究、特別是生物礦化和納米結構材料研究的理想儀器。
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