二手 JEOL 5600 #9157311 待售

JEOL 5600是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於研究材料的表面形態和微觀結構，因為它具有很高的分辨率。顯微鏡配有單色鎢絲光源，對低導電性樣品進行了優化。其最大加速電壓為30千伏，有限工作距離為4mm。5600 SEM還具有0.8nm的小光斑尺寸用於高分辨率成像。它配備了用於能量色散X射線（EDX）分析的Everhart-Thornley（ET）探測器和用於圖像采集的二次電子（SE）探測器。在4mm/mrad的分辨率下，該顯微鏡可用於高分辨率成像和無機及有機材料分析。JEOL 5600旨在提供專門針對半導體器件的定量圖像分析，如晶體管、二極管和C-MOS電路。SEM還能夠使用EDX探測器進行元素分析,對樣品中元素的材料組成和化學狀態提供精確的映射和定量,直至原子質量序數超過200的元素。此外，5600還配備了一系列用於透射電子顯微鏡（TEM）的探測器，可用於測量薄膜厚度和測量多晶材料的晶粒尺寸。此外，借助電阻加熱系統，利用電子束將樣品加熱至真空1000˚C，可以實現原位熔融和退火。此外，JEOL 5600采用數字圖像處理技術和計算機控制系統，可實現快速數據處理和高精度圖像重建。它還具有數字信號處理器（DSP）和用於高速數據采集的並行端口等可選附件。總而言之，5600是一種強大的掃描電子顯微鏡，能夠對有機和無機樣品進行微觀結構分析。它具有高分辨率成像、EDX分析和TEM功能,使其成為一個通用且先進的SEM,並且對於科學和工業研究具有高度的可靠性和準確性。