二手 JEOL 6340F #9139647 待售

JEOL 6340F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計具有增強的成像能力和一套廣泛的分析工具，用於工業、科學和教育應用。利用高性能的EDS系統和集成的EBSD檢測器,該SEM提供了高細節圖像和精確的分析結果,並改進了材料特性。JEOL 6340 F包括一種50kV場發射槍，能夠實現更高分辨率的圖像和提高成像速度，具有更大的景深和對比度。試樣臺在低振動頻率下保持靜止，提高了成像精度，提高了放大倍率。腔室提供150毫米的最大樣本量，具有一個可旋轉的臺階和大約12千克的試樣容量。該腔室還配備了液氮冷卻腔室，用於低千伏成像，提供出色的圖像質量，以便於對細膩或具有挑戰性的樣品進行分析。除了卓越的成像功能外,6340F還包括一套分析工具,可以進行精確的元素和曲面分析。SE成像模式允許廣泛的信號譜提供完整的化學元素信息，二次電子成像允許元素映射以實現更大的樣品細節。電子反向散射衍射（EBSD）允許表面表征和測量金屬、陶瓷和水泥中的晶界和其他性質。EDX模式通過單個原子分辨率提高了檢測精度和靈敏度。再者，眾多的探測器可以整合到腔室中以擴展能力，如能量色散X射線光譜、X射線衍射和激光誘導擊穿光譜（LIBS）。所有這些分析能力使6340 F能夠提供全面的表征和分析性能,使其成為材料科學和工業應用的理想工具。