二手 JEOL 6400F #9071901 待售
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ID: 9071901
晶圓大小: 6"
Scanning electron microscope, (SEM)
6" Wafer loadlock
Chamber system
Secondary and backscatter imaging
Specimen stage:
Type: Fully eucentric goniometer stage
X-direction: 100 mm
Y-direction: 110 mm
Z-direction: 34 mm
Tilt: -5° to 60°
Rotation: 360° endless
Working distances: 5 - 39 mm
Specimen holder for 12.5 mm diameter x 10 mm height
Specimen holder for 32 mm diameter x 20 mm height
Specimen exchange:
By airlock up to 150 mm diameter specimen holders
By stage drawout 200 mm diameter or larger holders
Absorbed current measuring terminal: built-in
Specimen protection buzzer: built-in.
JEOL 6400F是下一代掃描電子顯微鏡（SEM）。該儀器是一種通用工具，可用於各種納米級成像和分析應用。6400F使用電子源生成一束電子束，然後將其聚焦並操縱以創建樣品表面的圖像。這種高度可靠和敏感的儀器具有高分辨率成像、高通量分析操作以及易於使用和維護的優點。JEOL 6400F配備可變壓力、水冷電子槍。這允許用戶調整腔室的工作壓力，有助於最大限度地減少不需要的表面充電，並提供準確的樣品成像，而無需調整加速度電壓。該槍可以達到30kV的最大加速度電壓，並且能夠將電子束聚焦成直徑為25 nm的點。SEM包括多種探測器,包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、能量色散X射線光譜儀和波長色散X射線光譜儀。EDS系統可用於元素分析，而WDS系統可用於更精確的化學分析。除了成像和分析操作，6400F還有其他幾個特點，使其成為納米技術研究的理想工具。它包括一個可以手動或自動控制的舞臺，允許用戶旋轉、傾斜或移動樣本，以便對不同感興趣的區域成像。它還包括自動化的圖像處理和操作軟件，可以幫助研究人員準確、快速地獲取分析所需的數據。JEOL 6400F提供出色的分辨率和高穩定性，使其成為納米技術研究的優秀儀器。它是一種易於使用的儀器，其各種特性使其用途廣泛，足以用於廣泛的應用。它的分析和成像能力超過傳統顯微鏡工具，可以幫助研究人員獲得對傳統技術無法進入的納米級世界的寶貴見解。
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