二手 JEOL 6400FV #9071902 待售
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ID: 9071902
Field Emission Microscope (FEM)
Secondary and backscatter imaging
Specimen chamber cold-finger.
JEOL 6400FV掃描電子顯微鏡(SEM)是一種先進的顯微鏡,具有許多特點和功能.6400FV是一種先進的設備,設計用於從法醫學到材料科學等各個領域的研究。JEOL 6400FV配備了二次電子成像和反向散射電子成像,為各種樣品提供了高分辨率的能力。它還設計用於標準和可變壓力操作,並具有4象限反向散射探測器,以增強表征能力。此外,標本室還為各種SEM應用配備了多個傾斜角度和標本邊界。6400FV有一個新的EDS(能源色散光譜法)檢測器,它的有源面積大,計數率高,因此提供了更好的數據質量。它還具有「固定窗口」區域,可減少EDS數據采集所需的時間並提高吞吐量。此外,該儀器還提供了簡化設備設置的先進自動化和計算機驗證系統。JEOL 6400FV有一個數碼相機和計算機控制的數據采集和分析軟件。該相機提供分辨率高達5,120 x 3,840像素、16位色深的圖像,提供全方位的顏色和細節。計算機控制的軟件可以處理圖像並將其存儲在任何計算機格式上。6400FV的可變腔室壓力高達10-2 mtor,進一步提高了成像能力。此外,JEOL 6400FV還設計成與蒸發器配合使用,用於薄膜塗層樣品和沈積材料。先進的機器還具有高真空模式,非常適合低背景成像。6400FV是一個高級工具,為高級研究提供了廣泛的能力。電子成像和高級自動化功能使用戶能夠完成各種任務,包括材料特性鑒定、取證調查和薄膜沈積。此外,可變壓力、數碼相機和計算機控制的軟件都結合在一起,創建了一個非常適合各種應用的高級SEM。
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