二手 JEOL 6500F #9234597 待售
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ID: 9234597
Scanning Electron Microscope (SEM)
Voltage: 0.5 kV - 30 kV
Magnification: 10 - 500,000 x
Resolution: 1.5 nm
Maximum probe current: 200 nA
Maximum sample size: Ø 150 mm.
JEOL 6500F掃描電子顯微鏡(SEM)是電子顯微鏡領域最先進的儀器之一。它利用聚焦的電子束產生樣品表面性質和地形的詳細圖像。SEM能夠提供高分辨率的樣品圖像,尺寸從1納米到100微米不等。6500F配備了肖特基野外發射槍,可實現超高真空操作和出色的光束穩定性。這把槍還能夠通過保持恒定的束流來提供高電流的電子發射能力。該儀器還具有先進的高速掃描系統,能夠快速掃描和圖像采集。JEOL 6500F還配備了各種最適合不同應用的檢測器,如二次電子(SE)檢測器、低和高真空反向散射電子(BSE)檢測器,以及電子槍檢測器(EGD)。這使得能夠從樣品中收集不同類型的電子圖像和光譜數據。儀器所提供的高真空系統可確保對樣品表面的光束損傷最小。這種電子顯微鏡具有廣泛的圖像分析軟件,可以用來比較和對比圖像或獲得二維和三維的定量分析。除了傳統的成像模式外,這種SEM還提供獨特的成像能力,如鏡頭內光學成像、陰極發光、相差成像和電子束感應靜電對比度成像。6500F配備了廣泛的附件和外圍設備,以滿足許多應用程序的需求。這包括XYZ自動化階段、圖像處理模塊、環境室、真空系統和樣品預處理設備。該儀器還具有自動處理樣品的機器人樣品操作系統和用於在較高壓力下檢查樣品的低壓浸入式電池。其特性和能力的結合使JEOL 6500F一種用途極為廣泛的儀器,用於從有機材料和非導電材料的研究到納米設備的表征等廣泛的應用。此SEM為映像和分析提供卓越的性能和多功能性。
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