二手 JEOL 6701F #9077186 待售

JEOL 6701F
製造商
JEOL
模型
6701F
ID: 9077186
Oxford X-Max EDS system 80mm x 80mm silicon drift detector.
JEOL 6701F是為各種成像應用而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有場發射冷陰極電子槍,以產生高度聚焦的電子束,然後以光柵圖樣高速掃描穿過樣品。電子束與標本相互作用,然後收集標本表面產生的次級電子,形成標本的數字圖像。這種SEM具有30kV的最大加速電壓,因此即使對於非常薄的樣品也可以實現高分辨率成像,對於輕元件也是如此。光束發散只有1 mrad,提供高達1Å的極高分辨率。圖像的精確度和景深也通過單位高達50 mrad的大收集角度得到提高。6701F產生的電子束不僅聚焦,而且使用光束穩定器(OBS)穩定。該系統保持穩定的光束直徑和橫截面,以確保圖像清晰度和分辨率。該單元還具有一系列先進的成像模式,能夠開展元素表征、電子束光刻和自由接觸模式成像等活動。其omegascan自動掃描系統(ASS)有利於快速獲取地形圖像以及納米省略,這提供了市場上最高的分辨率。此外,JEOL 6701F還包括自動化的樣本處理。其樣本處理系統通過加載、定向、對準和聚焦等常規操作自動運行樣本。自動待機功能進一步縮短了操作時間。所有這些特性,加上6701F的卓越性能,使其成為材料科學和微電子學等不同領域研究人員的理想SEM。
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