二手 JEOL 7200 #9274854 待售

JEOL 7200
製造商
JEOL
模型
7200
ID: 9274854
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With EDS system.
JEOL 7200是一種掃描電子顯微鏡(SEM),經常用於包括生物、聚合物、礦物和材料研究在內的廣泛的分析和研究應用。SEM以三種不同的運作模式運作;二次電子成像(SEI)、反向散射電子成像(BEI)和能量色散X射線檢測(EDX)。7200對樣品進行了出色的成像,進一步對樣品成分進行了映射和元素分析。SEM具有用於處理樣品的自動化真空設備和高電子束電流分辨率,以便更好地成像。綜合環境和分析系統還提供了優越的色譜特征,如元素微分析和氣相色譜。JEOL 7200的分辨率範圍很廣,適合各種標本;它有一個使用自動圖像取樣單元的探測器系統,並自動設置掃描面積和放大倍率。SEM還具有野外發射槍和成像電子設備;配備超高保真電子槍發射器、高穩定性掃描偏轉器,並配有電子束控制用的數字電子設備。7200 SEI模式可用於捕捉標本的真彩色圖像。BEI模式可用於測量試樣的表面粗糙度、孔隙度和結構紋理。EDX模式允許對樣本進行元素分析。集成氣相色譜儀進一步為研究應用提供了優越的分析能力。JEOL 7200為研究應用提供卓越的成像和分析能力。它還具有高分辨率電子束觀察工具、能在150kV下工作的電子光學器件以及精確的3軸納米級。SEM用於一系列科學研究應用,如研究微結構中的元素分布,進行有機和無機元素分析,或研究材料樣品表面。
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