二手 JEOL 7400 #9399277 待售

JEOL 7400
製造商
JEOL
模型
7400
ID: 9399277
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL 7400掃描電子顯微鏡(SEM)是一種行業領先的表面形態成像和分析設備。它是JEOL先進、功能強大的顯微鏡之一,將卓越的性能與尖端特性相結合。7400能夠獲取高分辨率、高靈敏度的圖像,同時在觀測過程中提供對環境條件的精確控制。JEOL 7400是一種場發射SEM,包括一個摻入的細聚焦電子源、高精度束電流控制和低充電電流發射。該SEM在-100°C至100°C的溫度下運行,提供生物和非生物樣品的通用成像。此外,它還能夠利用環境SEM技術對非導電樣品進行高分辨率成像和分析。7400具有21.3 cm (W) x 19 cm (H)大視野和3nm分辨率,提供高分辨率成像和精確的3D樣本分析。它具有分辨率最高的成像功能,擁有50 nm的分辨率、半自動樣品傳輸和直觀的用戶界面。此外,此SEM還需要最低限度的維護、出色的低加速電壓性能以及低擁有成本。JEOL 7400提供了多種附加功能,包括圖像處理和分析能力、實時成像、高分辨率二次電子細節成像以及生產晶體結構的特殊操作模式。它的專有放大系統也使得7400可以實現高達500,000倍的放大,而不會對觀察到的樣品造成任何失真。此外,這種SEM能夠在一次曝光中獲得廣泛的放大倍數,從而能夠有效地利用成像系統。JEOL 7400掃描電子顯微鏡提供無與倫比的性能,以精確的3D樣品分析提供高分辨率成像。其直觀的圖形用戶界面、半自動樣本傳輸以及可選的環境SEM技術為科學家提供了更高的性能和效率。憑借其專有的放大系統和先進的成像功能,7400能夠準確觀察各種樣品。
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