二手 JEOL 840 #293618108 待售

JEOL 840
製造商
JEOL
模型
840
ID: 293618108
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS included.
JEOL 840是一款掃描電子顯微鏡(SEM),專為尋求先進成像技術的用戶而設計。它提供一流的成像性能,並提供各種功能,非常適合執行常規和復雜成像應用的研究人員。憑借其強大的SEM軟件包,用戶能夠為通用樣品類型和各種樣品厚度執行快速可靠的成像。該儀器還采用了一種創新的維也納濾波器光譜儀(WFS),能夠:快速可靠的元素分析、具有全光譜成像的EDS、快速準確地自動測量每個像素的成分,以及樣品的逐像元素映射。840的SEM套件包括一門具有4:1電視對比度的野外發射Everhart-Thornley槍、一個低角度環形暗場探測器和一個五倍極片證明可以防止任何散射像差。SEM還擁有廣泛的高端電子光學器件,包括反向散射電子檢測器(BSD)、二次電子檢測器(SED)和低壓二次檢測器(LVSD)。它能夠獲得極低噪聲水平的高對比度圖像,提供出色的電子光學性能和出色的信噪比。世界糧食首腦會議與SEM軟件包相結合,使用戶能夠立即收集具有超高分辨率的同時全譜和元素信息,用於元素分析和元素映射。世界糧食首腦會議配備了創新的超高速光譜儀,能夠從同一個鏡頭快速獲取光譜和X射線衍射信息。此外,儀器預編程的材料範圍很廣,而輻射探測器提供了極好的圖像分辨率與X射線信號獲取高達12kV與每一個成像運行存儲參考信息。JEOL 840的軟件環境針對高速、可靠的成像和數據分析進行了優化。它包括一個用戶友好的成像界面,其中包括一系列強大的智商和3D重建成像技術。除了這些成像技術之外,觸摸屏界面還可以快速傳輸和導出具有出色信息可靠性的數據集。總體而言,840是一種先進的成像技術,它將現代SEM封裝中最好的與電子光學和WFS功能方面的極致結合在一起。它提供快速、可靠的圖像和元素分析、出色的圖像分辨率和極低噪聲水平的高對比度圖像。JEOL 840非常適合常規和復雜的成像應用,是希望獲得電子顯微鏡性能最佳的研究人員的完美伴侶。
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