二手 JEOL 840A #9157331 待售

JEOL 840A是一種用於許多材料科學和工業應用的掃描電子顯微鏡（SEM）。它具有由聚焦離子束（FIB）、二次電子（SE）和反向散射電子（BSE）探測器組成的中間真空三束設備。SEM分析可產生高達100,000倍的高分辨率圖像。此外，SEM圖像能夠呈現表面形態、元素濃度或晶體結構。840A采用S/TEM（掃描/透射電子顯微鏡）雙柱配置，具有多功能性。這允許對電子透明樣品進行高分辨率成像，以及常規的掃描電子成像。寬廣的中間真空室與氣場發射源和熱場發射源兼容，具有多條SE和BSE模式的氣線和入口線。此外，JEOL 840A提供了一個可選的全自動FIB準備的SEM成像功能，允許獲取電子透明圖像和FIB準備的SEM成像樣品。840A提供高級功能,例如軸上和離軸膠片厚度和組成測量、樣品掃描自動識別系統、環形探測器、可變壓力操作和數字圖像模擬功能。SEM的一些高級功能允許對樣品結構進行定量分析。軸上測量單位在實時成像時測量材料厚度，而離軸檢測器則以加速采樣率測量樣品的元素組成。此外,SEM還提供自動圖像配準和自動掃描功能,用於免提樣本分析。JEOL 840A使用圖像處理機器和軟件對SEM分析數據進行數字化、存儲、處理和存儲。此外,該工具還提供了出色的後處理功能,包括測量處理、元素映射、圖層映射、圖像處理和3D重建。總之，840A是一種通用、先進的掃描電子顯微鏡，具有高分辨率成像和先進特征。它能夠對各種樣品提供詳細的表面和元素分析，適用於各種工業和材料科學應用。