二手 JEOL 845A #9157332 待售

JEOL 845A是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析多種材料。它利用能量色散X射線探測器（EDS）和高分辨率二次電子探測器（SE）提供卓越的成像和分析能力。845A等SEM使研究人員能夠獲得各種信息，如化學成分、晶粒大小、表面地形和結晶相。JEOL 845A使用最大光束壓力為3 nA的鎢絲，允許非常高分辨率成像。它的高壓光束掃描系統允許快速的圖像采集，並且樣品架的可調工作距離允許在大樣品中有更大的靈活性。845A配有一個反向散射電子探測器，用於探測和繪制樣品表面的微觀地形，從而能夠根據材料的組成來區分材料。JEOL 845A隨附一個可選的能量色散X射線探測器（EDS）,允許對樣品進行元素分析。其低真空操作使其能夠以比其他SEM更高的放大倍率分析非導電材料。EDS檢測器提供了關於樣品成分組成和分布的附加信息，可用於確定相分數、識別微量元素或確定粒度分布。845A提供快速的信號處理和圖像采集,使其適用於需要高度詳細成像的難以處理的樣本。它配備了自動對準和對準校正系統，並標配了功能強大的放大控制器，可在無需人工幹預的情況下精確聚焦樣品。此外,最終用戶還可以調整其它參數,如電壓和電流,以優化圖像質量和信號強度。總體而言,JEOL 845A提供了一套廣泛的特性和功能,使其成為高分辨率成像和分析各種樣品材料的絕佳選擇。它使用可選的EDS檢測器捕獲各種樣本信息的能力使其成為研究人員尋找詳細分析結果的強大工具。