二手 JEOL ARM 200 F #9160516 待售
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ID: 9160516
Scanning electron microscope (SEM)
Electron gun: Cold field emission gun
Accelerating voltages: 80, 120 and 200 kV
Aberration corrector: CEOS Hexapole type aberration corrector
Camera: No
GIF Spectrometer: No
EDS Analysis: Diode JEOL
EELS Spectrometer:
Gatan imaging filter
Quantum ER model
Detectors and camera:
Ultra scan CCD camera (4Kx4K)
STEM-HAADF
STEM BF/DF
Specimen holders:
Single and double tilt holders
Single tilt cryo holder
Tomography holder
Performances:
Point resolution: 0 075 nm (200kV) et 0 08 nm (80 kV)
Lattice resolution: 0.046 nm (200kV) and 0.055 nm (80kV)
Energy resolution:
0.40 eV (Emission current: 20 pA)
0.26 eV (Emission current: 1 pA).
JEOL ARM 200 F掃描電子顯微鏡（SEM）為常規實驗室工作和研究提供了卓越的成像能力。高性能設備，全方位分辨率5 nm，非常適合有機物和無機物的成像。該儀器非常適合廣泛的應用，包括晶體學、故障分析、材料成像及其物理和化學性質。該系統包括用於真實3D成像的氣態二次電子檢測器（G-SE）、用於EDS微分析的離子源，以及用於最大限度提高超細表面特征對比度的大型低背景檢測器。ARM 200 F SEM提供真空環境,放大倍數範圍從8倍到500,000倍不等。它還配備了雙電子槍單元，用於優越的光束穩定和控制。該機器的先進功能包括一項專利的聚焦離子束技術,用於創建樣品的橫截面。它還配備了探針校正工具，以確保最佳的圖像質量。此外，該資產還提供自動化操作、計算機控制以及高層級等一系列附件，用於分析較大的樣品，以及用於樣品分析比較的數字成像模型。強大的JEOL ARM 200 F SEM是電子顯微鏡界的可靠工具。它以經濟實惠的價格為復雜的映像和分析要求提供卓越的性能。設備用戶友好，提供直觀直觀的用戶界面。堅固可靠的結構提供了極好的耐用性,確保系統在未來很長時間內將繼續提供可靠和準確的結果。
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