二手 JEOL ARM200CF Super X #9274124 待售

JEOL ARM200CF Super X掃描電子顯微鏡（SEM）是當今市場上最先進的掃描電子顯微鏡之一。是材料科學、材料分析、醫學研究等應用的理想選擇。該系統使用冷凝器透鏡提供高達200kV的高分辨率成像,最多可同時連接四個樣品支架。ARM200CF Super X SEM具有卓越的聚焦深度（DOF）控制機制,可提供更大的景深,使圖像保持在聚焦平面內,而無需使用多種成像條件。它還具有獨特的野外發射槍（FEG）技術，能夠產生優於傳統SEM的信噪比，從而實現更高分辨率的成像。FEG技術還能夠更快地掃描以提高吞吐量。此外，JEOL ARM200CF Super X SEM采用了先進的二次電子成像（SEM PED）技術來限制樣品受到電子源與樣品界面的汙染。利用二次電子檢測以及XEDS、ESP和Crystal Orientation Mapping等分析技術，提高了這種地形成像方法的分辨率和細節。ARM200CF Super X SEM還提供了一系列用戶友好的功能,包括自動晶圓分析和例行/半自動編程,以及用於樣品定位和精確操作的自動對焦系統。此SEM的卓越性能和用戶友好特性使其成為要求苛刻的映像應用程序的理想選擇。