二手 JEOL BX-WAC300B93 #9282276 待售

JEOL BX-WAC300B93掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能的臺式SEM設備,能夠在各種環境中觀察和分析各種材料。該模型將先進的電子光學元件與300kV加速電壓相結合，以便對各種物體進行可靠的成像。它能夠成像到0.7 nm的分辨率,並且可以實現高達100,000 x的放大倍數,非常適合查看標本上的小特征。BX-WAC300B93具有多種可實現高分辨率成像的功能,例如數字液晶顯示器顯示、可調束電流和可變壓力冷場發射（CEF）電子光學。CEF電子光學器件防止不需要的粒子進入色譜柱並造成汙染，給予更好的圖像清晰度。JEOL BX-WAC300B93還有一個粗糙精細的聚焦系統，以便於操縱超細光束電流，從而對樣品進行更精確的分析。此外，顯微鏡有一個電動柱頭，這有助於提高圖像分辨率和提高對比度。為了提供更高的精度，BX-WAC300B93有一個自動化的背景成像單元，可以準確分析樣本背景中的特征。JEOL BX-WAC300B93配備了獨一無二的舞臺控制機，可用於使用多種技術對不同的樣品成像，包括掃描電子顯微鏡（SEM）、低壓電子顯微鏡和圖像放大倍率模式。此外，此工具還包括各種標本持有者，如TEM標本持有者、存根持有者和RBS持有者。舞臺控制資產也可以用來移動標本的部分，可以手動或自動操作。此外，該模型還具有自動聚焦功能，可對樣品進行更精細的水平分析。BX-WAC300B93為成像提供了廣泛的樣品制備選擇，包括機械拋光、濺射塗層、冷冷冷凍技術和各種其他清潔技術。顯微鏡可以用最少的樣品制備來觀察金屬、無機、有機和晶體樣品。除了先進的成像能力外，JEOL BX-WAC300B93還具有幾個用於數據收集和分析的軟件包。這些軟件包包括用於粒子分析的SEIMAGER軟件、用於差分對比分析的ADELM軟件和用於自動信號處理的CORCON軟件。這些程序能夠有效地操作和分析顯微鏡的數據。此外，這臺顯微鏡還配備了數字存檔設備，使用戶能夠保存分析會話中捕獲的所有圖像和數據。BX-WAC300B93掃描電子顯微鏡是一種功能強大、用途廣泛的分析系統,非常適合檢查各種環境中的各種材料和物體。其先進的電子光學器件，加上大量的自動化功能和軟件包，確保對大小物體進行可靠和準確的成像。該模型為分析從金屬到有機材料的一系列樣品提供了一個極好的平臺。