二手 JEOL BZG-70CTSCLPL #9282274 待售

JEOL BZG-70CTSCLPL是一種非常適合材料科學和工程應用的掃描電子顯微鏡（SEM）。此SEM采用小巧、用戶友好的設計,維護要求低,具有超高分辨率成像功能。BZG-70CTSCLPL有一個高亮度的無絲場發射槍（FEG）結合了一個超低振動樣本室為優越的成像。這種構型使電子束發散最小化，同時產生超高分辨率圖像。可變壓力LED樣品室允許電子束電流在很寬的範圍內變化，從而能夠精確映射樣品特征。JEOL BZG-70CTSCLPL具有廣闊的視野和較高的整體性能。它具有12.7 mm的寬工作距離和0.8 nm的圖像分辨率,非常適合成像地形和化學成分方面的微小特征。它具有低偵測噪聲比和1000：1的最小動態範圍，允許用戶檢測樣品的小濃度。BZG-70CTSCLPL非常適合對生物材料、陶瓷、聚合物和納米材料等精細樣品進行成像。它也適用於3D重建,並具有將數據傳輸到高階文件格式的能力。高清晰度成像具有高對比度和低噪聲級別。JEOL BZG-70CTSCLPL設計用於自動化環境中的操作。采樣階段可以自動化，快速實現對采樣移動和可重復定位點的補償。系統可以通過以太網或總線接口操作到外部計算機,同時運行掃描,允許同時完成不同的操作。BZG-70CTSCLPL是一種可靠的掃描電子顯微鏡，具有用戶友好的特點，可以精確分析材料。它維護要求低、動態成像範圍廣、真空模式低,是需要卓越成像能力的應用的理想選擇。