二手 JEOL BZG-71CSTSCLPL #9282273 待售

JEOL BZG-71CSTSCLPL掃描電子顯微鏡（SEM）設計用於高分辨率成像和分析硬質和軟質材料。這臺先進的儀器采用自動真空系統準備樣品進行觀測，並配有反向散射電子探測器，使用戶可以同時查看表面和內部結構。BZG-71CSTSCLPL還有一個綜合環境室，允許用戶在受控的大氣和溫度條件下檢查樣品。該單元配備了野外發射槍（FEG），使JEOL BZG-71CSTSCLPL能夠達到10納米以上的分辨率，提供出色的圖像細節和清晰度。這種高分辨率與強大的數字信號處理（DSP）技術相結合，使得成像薄而細膩的樣本成為可能。BZG-71CSTSCLPL還有一個自動化的舞臺和XYZ運動控制，允許在多個方向上對同一個樣品進行可重復成像。在功能方面,JEOL BZG-71CSTSCLPL提供了多種成像和分析模式。此SEM能夠使用基於3D ZYX的自動成像系統進行二維成像和三維重建。對於元素分析，SEM結合了質子輔助X射線檢測器和能量色散X射線光譜（EDS）檢測器，允許使用者確定樣品的化學成分。BZG-71CSTSCLPL是一個令人印象深刻且用戶友好的SEM,非常適合用於工程、地質、材料科學、醫學研究等多種應用。這款高效的SEM提供了令人印象深刻的多種功能組合,使其成為多種類型材料成像和分析的首選。憑借先進的成像能力和自動化設計,JEOL BZG-71CSTSCLPL是滿足各種復雜成像需求的理想解決方案。