二手 JEOL BZG-72WCST8H #9282258 待售

JEOL BZG-72WCST8H是一種具有場發射槍（FEG）電子源的最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。此SEM提供了真正的低真空成像,工作真空為2.0 Pa,提供了具有出色分辨率和高質量成像的真實視野。該槍壽命長，以驚人的1.4 nm分辨率運行。SEM采用了新設計的專利偏轉系統，該系統集成了高速反應性氣束遮擋器及其相關機械元件，可實現最佳成像。此功能提供超低暗電流噪聲和高速電子束掃描,以捕獲最精細的細節,並降低損壞樣品的風險。SEM有一個集成的光束減速系統，用於提高圖像對比度和細節分辨率的亮場圖像和光束掃描失真校正。柱孔徑上的內置二階校正可在整個成像區域實現高空間分辨率和均勻點擴展函數（PSF）。通過高速電子束掃描，BZG-72WCST8H減少了圖像中的偽影和噪聲。SEM中的柱內能量濾波器和分析能力使元件分析能力超過其他系統所能達到的。其高性能WDS/EDS能力通過高電流矩陣檢測器和精密軟件得到增強，提供化學元素識別和SEM圖像中存在的不同元素的定量分析。該軟件支持用戶友好的操作,便於部署和操作。它被設計為隨著時間的推移與多個附件一起操作，如BSE探測器、RF線圈、鏡頭內探測器、SE探測器和EBSD。JEOL BZG-72WCST8H是各種實驗室應用的理想設備。其高分辨率成像能力使得各種研究成為可能，例如材料科學、半導體晶圓級檢查、納米技術應用、故障分析等等。它的靈活性和易用性使得它幾乎適合任何研究要求。