二手 JEOL BZG-73WCST6H #9282405 待售

JEOL BZG-73WCST6H
製造商
JEOL
模型
BZG-73WCST6H
ID: 9282405
晶圓大小: 2"
Cassettes, 2".
JEOL BZG-73WCST6H是一款尖端掃描電子顯微鏡,與市場上其他SEM相比,性能能力優越。它包含一個OneView Lense檢測器和一個高性能的SR檢測器,這兩者都以其先進的圖像捕獲和分析能力而聞名。因此,該儀器非常適合電子束光刻、納米光刻和微加工等應用。BZG-73WCST6H上的野外發射槍(FEG)源是市場上最先進、最強大的源之一。此FEG提供高電流密度、低噪聲地板和近光不穩定性,以便在最小幹擾的情況下實現精確的成像。此外,它還具有遮光能力,用戶可以精確測量和分析發射電流的相對分布。快速、準確地進行這種操作的能力使得這種儀器非常適合先進的材料分析。JEOL BZG-73WCST6H還具有各種樣品制備階段,從常規膠體金塗層、氣相碳塗層到冷凍壓裂,所有這些都是為了提高成像精度而使用的。此外,電子槍可以與電荷檢測器整合,讓使用者能夠準確分析標本的局部電場特性。BZG-73WCST6H憑借其60kV的ReFocusing Gun鏡頭設備提供卓越的分辨率。該系統與圖像平臺配對,以優化信噪比和圖像質量。它還具有一個集成的EDS單元和一個高靈敏度探測器,可以對元素組成進行精確的分析。還包括一個亮場探測器,提供對比度和景深增強。JEOL BZG-73WCST6H還配備了一個軟件套件,旨在最大限度地提高SEM成像的效率和準確性。這臺機器包括一個全面的3D成像軟件包,用於快速準確地構建微觀結構的3維模型。它還包括高級分析程序,以方便地形掃描、元素映射和粒度分析。BZG-73WCST6H儀器的所有特點使其成為研究和工業應用的傑出選擇。其先進的FEG源、廣泛的樣品準備階段和強大的分析程序都結合在一起,使其成為那些尋求卓越成像能力的人的理想選擇。
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