二手 JEOL BZG-75MST4H #9282264 待售

JEOL BZG-75MST4H
製造商
JEOL
模型
BZG-75MST4H
ID: 9282264
晶圓大小: 4"
Square mask, 4".
JEOL BZG-75MST4H是一種用於高級離子束分析應用的高端、高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有150 mA/cm2的峰值電流和0.07 eV的能量分辨率。BZG-75MST4H擁有一個可以加工2.5微米超薄標本的設備。其廣泛的操縱器可以為各種方向的樣本提供舞臺能力。此外,JEOL BZG-75MST4H還能檢測光電倍增器和熱電冷卻探測器。BZG-75MST4H適用於各種科學和工業用途,從標準的電子顯微鏡測試到復雜的分析和材料研究。它提供了增強的分辨率級別,可用於檢查高度專業化的材料的許多特性,且精度很高。JEOL BZG-75MST4H由先進的數字圖像處理系統提供支持,它使用戶能夠以極大的放大倍數捕獲高度詳細的圖像。可以收集和分析數字圖像數據,從而優化工作流程和實驗。這種顯微鏡還具有獨特的,ultoreflection塗層石英觀察室,其目的是盡量減少信號失真或錯誤的成像過程。BZG-75MST4H能夠執行各種表面分析技術,包括二次電子成像、反向散射電子成像和X射線映射。SEM還能夠對樣品進行化學分析,如EDX、EDL、EDS和TXM。顯微鏡還具有幾個內置的安全特性,如高壓關機開關,可以防止錯誤或事故發生。該單元還具有幾個方便功能,例如能夠分配用戶定義的掃描和圖像捕獲序列。JEOL BZG-75MST4H是一種先進的掃描電子顯微鏡,設計用於研究應用和工業用途。它利用獨特的光學機器來提供更好的分辨率和圖像質量。此SEM為高級應用程序(如表面分析、成像和材料研究)提供了功能。其廣泛的安全性和便利性使BZG-75MST4H成為任何研究或工業用途的強大而可靠的SEM。
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