二手 JEOL BZG-75MST4H #9282265 待售

JEOL BZG-75MST4H是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），適用於工業和研究應用的一系列應用。它是一種可調電子顯微鏡，主要適用於需要對樣品進行高分辨率和準確度研究的中壓應用。BZG-75MST4H的主要部件包括場發射槍（FEG）、閃爍器、電子極片、級控制和一套高壓電源。FEG用於從要研究的樣品中產生電子束。閃爍體能夠偵測反射電子，使所產生的影像能被目視觀察到。電子極片用於將電子束偏轉和聚焦到樣品上，以及為反向散射電子的收集提供一個無場區域。舞臺控制允許樣品的對齊和樣品的旋轉。JEOL BZG-75MST4H同時配備了自動化樣品交換和提高生產率的綜合機動轉移設備。該系統包括JEOL控制器IV或通過自己的菜單單元操作的TE儀表。機器還根據研究樣品的性質為用戶提供各種成像模式，如反向散射電子（BSE）模式、二次電子（SE）模式、EFTEM模式等。BZG-75MST4H是一種高分辨率的SEM,可產生高質量的圖像。獲取的圖像具有圖像合成、圖像捕獲和圖像存儲等多種有用功能。SEM工具附帶的軟件包提供了其他功能,如分析數據、圖像處理、3D重建等。此外,SEM還具有各種功能,例如高分辨率成像、聚焦和孔徑控制、用戶友好操作、光譜測量、光譜以及自動成像和處理。JEOL BZG-75MST4H是一種有效的掃描電子顯微鏡，可用於多種應用，包括表面調查、元素組成評估、故障調查、微觀分析等。它也適合進行一系列工業和科學研究，使其成為工業和科學探索領域的寶貴工具。