二手 JEOL FIB JFIB-2300 #9137333 待售

JEOL JFIB-2300場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）是一種高分辨率掃描電子顯微鏡，設計用於研究和工業市場。該JFIB-2300采用了一系列先進技術,能夠對各種樣品進行最佳成像。憑借其高分辨率的成像能力,該JFIB-2300有望獲得同類產品中最高的性能。該JFIB-2300采用新型單色儀結構、雙電子束FIB（場發射FIB）設備和直接檢測系統設計，提供高分辨率成像。高靈敏度單色儀產生清晰、高對比度的圖像，並允許對以前其他系統無法獲得的樣品進行分析。雙電子束設計使樣品區域的導航更加容易，並且在改變電子束參數時提高了響應速度。該JFIB-2300的最大分辨率為1 nm,可捕獲高達800萬像素的圖像。野外發射槍的最大加速度電壓為30kV，這樣就可以對厚達8微米的樣品進行成像。直接檢測單元還允許高達8倍的放大倍率。該JFIB-2300還具有許多方便的功能，可提高其可用性，包括遠程操作、角度/圖像分析和自動測量機。其直觀的GUI使其易於操作,並提供對各種分析信息和工具的訪問。綜上所述，JEOL JFIB-2300場發射掃描電子顯微鏡是一種先進的FE-SEM，設計用於研究和工業環境。該JFIB-2300具有高分辨率成像能力、強大的電子束工具和一系列方便的功能，能夠產生清晰準確的各種樣品圖像。對於那些在成像資產中尋求高性能的人來說,JFIB-2300是一臺理想的機器。