二手 JEOL FIB JFIB-2300 #9208934 待售

JEOL FIB JFIB-2300是一種具有內置聚焦離子束（FIB）的掃描電子顯微鏡（SEM）。它是一種先進的分析工具，用於成像和納米加工應用。FIB JFIB-2300將SEM成像和FIB處理結合在一個系統中,以獲得更高的分辨率和準確性。利用X-Y級和高精度直線電動機進行納米定位，使FIB技術成為可能。這提供了以最高分辨率掃描樣本的高級控制。它可以很容易地移動和旋轉樣品，以獲得所需的圖像。高能二次電子探測器能夠以高精度和清晰度捕獲圖像。JEOL FIB JFIB-2300提供了廣泛的光束電流和停留時間,以提高成像性能。它包括三個用於不同分析操作的探測器：二次電子探測器、反向散射電子探測器和鏡頭內探測器。這些探測器提供了廣泛的分析數據，如相位和元素組成。FIB JFIB-2300的SEM柱產生高電壓、高電流、高真空功率的組合。這允許對具有高分辨率和對比度的小特征進行成像,以及應用材料處理。此外，集成真空室確保在處理過程中沒有汙染，以防止樣品損壞。JEOL FIB JFIB-2300是一種直觀且易於操作的系統,可提供快速準確的性能。它還配備了一個自動化加載系統，以方便快速地加載樣品。這樣就可以快速分析和獲取樣本的數據,而無需手動操作。最後,它包括一臺集成PC,該PC具有強大的映像和分析軟件,可幫助用戶快速識別樣本特征。