二手 JEOL GC-310C/F #9384533 待售

JEOL GC-310C/F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米材料的分子成像、元素分析和尺寸測量。它的高空間分辨率使它能夠在小到10nm的樣品中達到最高級別的細節。該系統使用可變壓力和冷場發射槍（CFEG）源進行試樣檢驗和分析。顯微鏡具有用於元素分析的能量色散X射線光譜儀（EDS），為用戶提供了多種材料中快速可靠的元素表征。它還具有專門用於光譜成像的光譜成像源（SIS），允許對不同材料相進行詳細映射。該GC-310C/F包括一個HiGSD，它允許用戶手動調整來自設備的反向散射信號，以獲得更多的樣品細節。SEM專為提供卓越的穩定性和精確成像而設計，即使在野外發射槍環境中也是如此。它采用獨特的屏蔽設計，有助於減少遠光電流和減少樣品損壞。該GC-310C/F還包括一個高速捕捉圖像的集成攝像頭系統，以及一個集成的A-scan系統，用戶可以在分析樣本時輕松地測量樣本的厚度。SEM旨在提高能效並利用較低的電力成本。它也足夠輕，可以攜帶到不同的地點進行現場測試。對於已經具備必要專業知識和設備的實驗室來說，設置過程簡單明了。JEOL GC-310C/F有多種應用，包括材料研究、半導體制造和開發、納米材料合成、薄膜分析、表面和界面分析以及器件性能測試。總體而言,JEOL GC-310C/F是一款功能強大且用途廣泛的SEM,具有多種功能,是任何實驗室的理想選擇。