二手 JEOL / HOLON EMU 220A #192375 待售

JEOL / HOLON EMU 220A
ID: 192375
CD SEM for mask Stage laser needs replacement Gun needs PM.
JEOL/HOLON EMU 220A是一種掃描電子顯微鏡(SEM),利用電子束產生樣品的高分辨率圖像。它是一種提供10-45nm分辨率範圍的高性能模型,是微電子和微機電系統(MEMS)領域中的理想選擇。JEOL EMU 220A具有強大的能量色散X射線光譜(EDX)設備,可以對樣品進行元素分析。它還配備了可變壓力和電荷補償(VPC)系統,有助於提高圖像的對比度分辨率。此SEM提供高達237mm的大視野(FOV),以及獨特的可變壓力(VP)掃描模式,可增強三維(3D)應用的成像樣本對比度。此外,HOLON EMU 220A具有低真空和高真空模式,允許更大的靈活性成像細膩和復雜的樣品。動車組220A還配備了一個使用CCD技術提供高達5.3 µm圖像分辨率的高分辨率數字成像裝置,使其能夠以極高的清晰度捕捉復雜的細節和微觀結構。它也有一個專門的自動化舞臺機器,允許精確的樣本操作,允許樣品的最佳方向,以最大程度的圖像細節分辨率。這種自動化工具也很容易移動,可以與各種標本架一起使用。JEOL/HOLON EMU 220A還具有EDS映射功能,可以對樣品表面的元素進行成像和分析,為冶金分析提供重要信息。總之,JEOL EMU 220A是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,非常適合用於微電子和MEMS領域。它具有高分辨率數字成像資產、可變壓力(VP)掃描模式、10-45 nm分辨率範圍、自動級模型和EDS映射設備,所有這些都使HOLON EMU 220A任何電子顯微鏡應用的絕佳選擇。
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