二手 JEOL JBX-6300 #9393311 待售
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ID: 9393311
E-Beam lithography system
Silicon substrate, 8"
Polymer coated wafer
Pattern: Resist
Motorized aperture
Loader push rod loadlock
(2) Pumps
SF6 Tank
Emitter:
White: 120 kV
High-voltage connecter
Water cooled blanker
High brightness field emission electron source
Acceleration: 100 keV
25 MHz Deflection system
With magnetic lens
Beam diameter: 2 nm
Pattern diameter: 8 nm
Laser controlled stage capable: 1 cm
Power supply: 208 V.
JEOL JBX-6300是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.它具有先進的成像技術，使研究人員能夠查看和分析到納米尺度的標本。顯微鏡配備了多種提供高分辨率成像和分析能力的功能。JEOL JBX 6300配備了Thermo-FET超高真空場發射槍，能夠產生高解析度的電子場發射源。這種野外發射槍使研究人員能夠實現納米尺度目標的高分辨率成像。此外，JBX-6300擁有多模式信號處理系統，使研究人員能夠在各種成像和處理模式之間切換。此系統使用戶能夠為其樣本選擇最佳信號處理模式,從而提高分析精度。JBX 6300配備了幾個先進的成像和分析功能，包括3D、反向散射和二次電子成像。3D圖像提供了比2D成像更準確的樣本地形表示。反向散射成像允許檢測光學顯微鏡看不見的微妙特征。二次電子成像用於檢測樣品與背景的成分差異。這些成像能力使研究人員能夠更深入地了解納米尺度樣品的結構和組成。JEOL JBX-6300還配備了多種樣品操縱功能。電動級使使用者可以在電子束下移動樣品，而該級是傾斜和旋轉的，從而方便樣品的導航。此外，顯微鏡還配有氣體電池，用於註入反應性氣體進行分析。氣室允許研究人員在變化的壓力和/或溫度條件下分析樣品。此外，JEOL JBX 6300附有一個集成的X射線微探針，讓研究人員以無損的方式分析樣品的元素組成。X射線微探針能夠探測到低至納米尺度的輕、重、高貴元素。JBX-6300是一個強大的掃描電子顯微鏡能夠成像和微觀分析在納米尺度。它包括野外發射槍、多模信號處理系統、電動級、氣室、X射線微探針等多種先進功能，為研究人員提供了查看和分析納米尺度結構和成分的強大能力。
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