二手 JEOL JBX-9300FS #9246062 待售

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JEOL JBX-9300FS
已售出
製造商
JEOL
模型
JBX-9300FS
ID: 9246062
E-Beam lithography systems.
JEOL JBX-9300FS是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供具有廣泛特征的高分辨率成像。JBX-9300FS具有增強的性能和堅固的結構,能夠拍攝分辨率低至0.7nm的掃描電子顯微鏡圖像。它的電子光學即使在非常高的放大倍率下也能提供無失真成像。它還具有Spectra Analysis模式,允許它分析樣品的元素組成,直到單個原子層。JEOL JBX-9300FS具有很大的空間分辨率,視野可達10 μ m,分辨率為0.7 nm。它包括一個專業的抗振系統,以確保光滑和穩定聚焦在最大放大倍數。顯微鏡還配備了一系列探測器選項,包括用於測量能量色散X射線(EDS)的法拉第探測器和用於原子尺度成像的反向散射電子探測器(BSE)。JBX-9300FS能夠進行低真空模式操作(LVME),低至0.5 Pa,非常適合需要高光束電流和對具有低二次電子信號的材料進行高分辨率成像的研究。Molybdate Lithium Molybdate Chamber允許JEOL JBX-9300FS將SE/BSE圖像攝取到100 Pa的最大壓力,此外它還包括一個低發射電子Gun,使它能夠對具有最小二次電子背景噪聲的亞納米特征進行成像。此外,JBX-9300FS還具有獨特的探測器選項,包括點陣探測器和能量聚焦探測器。Spot Square Detector捕獲圖像並生成樣本的像素圖,而Energy Focusing Detector則用於測量EELS光譜線形。它還包括一個先進的自動化操作系統,使其能夠在自動化的樣品更換器周期中運行,從而提高整體生產率。總體而言,JEOL JBX-9300FS是一種高度先進、功能強大的掃描電子顯微鏡,具有一系列功能,旨在提供具有先進性能和堅固結構的高分辨率成像。這種多功能儀器非常適合各種應用,包括材料科學、納米技術和半導體研究。
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