二手 JEOL JCM 5000 #293797365 待售

JEOL JCM 5000掃描電子顯微鏡（SEM）是一種極為強大的儀器，用於進行納米規模的研究。利用高分辨率電子束獲得詳細的表面和橫截面圖像。操作的最佳加速度電壓在1到30kV之間，使用戶可以精確研究納米分辨率下樣品的精確細節。探測器是一種高速閃爍器，將傳入的電子轉化為可見信息，如數字圖像或3D地形圖。JCM 5000提供多種分析能力，包括BSE（反向散射電子）、WDS（波長色散光譜）、EDS（能量色散光譜）和X射線成像。這些特征可用於確定樣品的化學成分、元素級結構、晶體學取向和電特性。顯微鏡包含一個帶有冷掃描電子束的大功率場發射槍，產生了異常清晰的圖像。除了成像能力外，JEOL JCM 5000還有多種標本制備機制。其中包括一個標本支架、一個可以在最多6個軸上移動樣品的轉臺以及一個專門的薄膜制備系統。樣品還可以塗上導電層（金、濺射、碳等），以減少阿德反沖表面電荷。JCM 5000的構建是為了容納一系列復雜的樣品持有者，以協助在可變環境中觀察樣品。具體來說，真空冷凍支架可以停滯，以減少樣品漂移的影響，並具有頂部安裝的加熱元件來除冰樣品。JEOL JCM 5000的操作套件以用戶友好的操作系統為結尾,該操作系統具有用戶友好的圖形界面。它允許用戶輕松調整參數並獲取定制圖像。JCM 5000掃描電子顯微鏡是一種可靠、高性能的分析儀器。其優越的成像、元素分析和樣品制備能力，以及用戶友好的操作系統，使其成為進行納米規模研究的研究人員的理想工具。