二手 JEOL JEM 100C #9408448 待售

JEOL JEM 100C是專門為滿足納米級成像和分析需求而設計的掃描電子顯微鏡（SEM）。100 C能夠對各種樣品進行高分辨率成像和光譜分析。這種通用儀器可用於洞察各種材料的微觀結構和化學成分，從有機聚合物和纖維到半導體和金屬。JEM 100C的核心是提供卓越亮度和分辨率的多極肖特基野外發射槍（FEG）。它利用單色儀選擇單個波長的電子，增加信噪比。加上透鏡像差低，導致了高達0.07nm的極高分辨率成像。此外,超高真空（UHV）內室可確保樣品信號不受環境氣體的幹擾。該儀器具有一系列自動化功能，如自動化樣品裝載、舞臺驅動和樣品對準。它還包括用於研究工作的集成處理軟件,使數據的無縫管理變得容易。100 C還配備了自動真空泵送系統，允許系統快速撤離。JEOL JEM 100C能夠以廣泛的模式運行，包括二次電子成像、反向散射電子成像和電子束感應沈積。它具有利用能量色散和波長色散X射線光譜（分別為EDX和WDX）檢測和分析樣品元素組成的能力。對於需要最高分辨率圖像和分析多種材料化學成分的應用，JEM 100C是一個極好的選擇。其低像差透鏡、高效的FEG和UHV系統提供卓越的成像和分析能力。這些功能共同使JEOL JEM 100C成為尋找清晰、高分辨率圖像和精確元素分析的人的理想工具。