二手 JEOL JEM 100CX-II #293643256 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
JEOL 100CX是一種掃描電子顯微鏡(SEM)。它是一種多用途的工具,用於對高細節的固體材料表面進行成像。100CX具有多種功能,包括能夠以低至1納米的分辨率成像,以及使用其能量色散X射線光譜(EDS)探測器分析樣品的組成。該機組以冷場發射槍為特色,可在高真空、低真空和環境模式下操作。這使得樣品成像和分析具有更大的靈活性。JEOL上的圖像放大倍數100CX從6倍擴展到600,000倍,使其適用於廣泛的應用。100 CX的自動化功能使顯微鏡操作更加方便。其中包括一個全自動階段,用於快速高效地加載、定位和檢查樣品。該級能夠對樣品的位置進行微調,並提供高達25°的傾斜角。JEOL 100CX的操作分為三種不同的模式。其中包括使用SEM捕獲圖像的「樣本成像」模式、使用SEM執行線路掃描的「掃描」模式以及允許用戶對樣本進行測量的「測量」模式。100CX還有一個完整的軟件功能列表,以幫助分析樣本,包括X射線映射和厚度映射。JEOL 100CX的多功能性使其適合一系列樣品,包括生物樣品、半導體器件、納米材料和金屬。SEM在高真空、低真空和環境模式下運行的能力為樣品成像和分析提供了靈活性。其自動化功能使其易於使用,非常適合研究和工業應用。
還沒有評論