二手 JEOL JEM 100CX #9257453 待售

JEOL JEM 100CX
製造商
JEOL
模型
JEM 100CX
ID: 9257453
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 100CX是市場上最強大的掃描電子顯微鏡(SEM)之一。它總共承載了4個端口管,使其成為一個功能多樣的多功能系統。該100CX是一種穩定可靠的設備,可以長期運行,維護最少,能夠掃描各種區域的樣品,分辨率從幾納米到10微米以上不等。JEOL 100CX的設計旨在優化其場發射器,並通過使用二次電子和反向散射電子來優化其成像性能。這種組合使得樣品在清晰度和細節方面都能獲得最佳分辨率。該100CX是一個高性能的平面SEM,這使得它非常適合成像像隔離晶體管或生物樣本微妙的二維樣品。這些允許研究和生成它們的3D圖像。由於內置的組合探測器部分,100CX也可以同時用於元素和化學分析。標準類型的探測器包括EBIC、BSE探測器、能量色散X射線光譜儀和WDS或RBS探測器。EBIC檢測器模塊便於對樣品進行高分辨率成像,因為電子信號優化到特征,而BSE檢測器模塊生成二次電子。剩下的兩個探測器可以進行能量色散X射線分析以及RBS(盧瑟福反向散射光譜)和WDS(波長色散光譜)。JEOL 100CX還可以以50微米的精度控制其舞臺和標本高度,使用戶能夠聚焦樣品表面以提高分辨率。儀器的低真空模式也允許檢查範圍廣泛的樣品,從非導電樣品到高導電樣品。JEOL 100CX的其他性能特征包括低噪聲水平和低電壓操作、寬接受角檢測器以及精確到幾納米以內的機械掃描儀。此外,該100CX還能夠以較低的放大能力輕松控制放大和縮小表面掃描。綜合起來,JEOL的特點100CX使其成為可用於高級研究的最有效的SEM之一。這一模式被認為是大學和行業的行業標準,因為它具有廣泛的功能和能力,並具有較高的性能。總之,JEOL JEM 100 CX是那些希望用強大可靠的掃描電子顯微鏡進行高水平研究的人的理想選擇。憑借其廣泛的探測器、端口管和卓越的成像功能,100CX將為最苛刻的用戶提供他們探索納米級所需的工具。
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