二手 JEOL JEM 100CX #9302750 待售

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製造商
JEOL
模型
JEM 100CX
ID: 9302750
Transmission Electron Microscope (TEM) With camera.
JEOL JEM 100CX掃描電子顯微鏡是一種高分辨率成像和分析儀器,用於表征各種樣品的廣泛應用,包括:材料科學、醫學、地質學和生物學。顯微鏡裝有鎢絲電子槍,通過靜電透鏡設備產生聚焦在樣品上的電子束。樣品被電子束掃描,從樣品表面發射的二次電子被收集,以便呈現出高分辨率的圖像。JEOL JEM 100 CX擁有雙閃爍器和兩個相機,以確保優越的性能和圖像質量。系統可以兩種對比模式運行;二次電子成像(SEI)和反向散射電子成像(BEI)。低壓SEI模式可生成非常詳細的樣品圖像,而BEI模式可提供表面對比度以顯示表面不同材料的外觀。JEM 100CX提供了驚人的12 kV動態範圍和高達3980 x 2950像素的雙分辨率能力。JEM 100 CX具有廣泛的高級分析能力,如能量色散光譜(EDS)和電子反向散射衍射(EBSD)。EDS單元允許識別樣品的元素組成,而EBSD機器則允許對整個樣品的晶粒方向進行映射,以便對微觀結構進行分析。JEOL JEM 100CX還配備了自動圖像縫合功能,從而能夠使用一系列重叠圖像創建大於視野的樣本圖像。JEOL JEM 100 CX是一種可靠高效的掃描電子顯微鏡工具,非常適合各種材料的研究。其先進的設計具有先進的成像功能,使其成為幾乎所有應用程序的絕佳工具。
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