二手 JEOL JEM 1010 #293607208 待售

JEOL JEM 1010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於在微米和納米水平上對材料進行非常詳細的成像。此SEM使用戶可以使用高性能映像解決方案訪問示例的3D視圖。JEM 1010可以放大對象高達300,000x，使用戶甚至可以觀察到最微小的表面特征，並提供無與倫比的細節和準確性水平。JEOL JEM 1010配備了0.1- 30kV的加速電壓、二次電子探測器和電視攝像機，方便並行成像。這個SEM還包含一個Everhart-Thornley探測器，它提供了出色的信噪比和空間分辨率來檢測甚至最小和最復雜的特征。此外,該設備還配備了分束檢測系統,以減少拍攝每張圖像所花費的時間,並提高SEM圖像的信噪比。為了進一步提高圖像分辨率,JEM 1010還包含內置的Miller Index控件。MillerIndex允許從屏幕上的樣本圖像獲得高達原子分辨率的特征。Miller Index利用投影式電子槍和驅動Turbomolecular泵送裝置，產生高精度、高質量的圖像。JEOL JEM 1010還包括一個直觀、用戶友好的軟件平臺，具有一系列功能，以提高拍攝圖像的質量。這些包括對比度和亮度控制、圖像增強、EDX、EELS和PGT分析等功能。此外,該平臺允許用戶保存、存儲和傳輸圖像,還提供了廣泛的材料庫選擇,包括金屬、合金和其他材料。最後，JEM 1010是研究和工業應用的理想選擇。其多才多藝的設計和先進的成像能力使它成為希望獲得樣品詳細分析和細分的用戶的可靠、經濟高效的選擇。