二手 JEOL JEM 1010 #293725155 待售

JEOL JEM 1010是專為表面分析和先進材料表征而設計的高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）。該系統由電子柱、樣品級、探測器單元和電源單元組成。該柱是真空密封陽極燈絲產生電子，然後通過冷凝器透鏡聚焦。這些電子隨後入射到產生二次電子、反向散射電子、X射線和其他信號的樣品上。樣品級用於將樣品移入電子束的焦點。探測器單元可以檢測到次級和反向散射的電子或X射線，以便生成樣品表面的圖像。電源單元用於控制電子柱的加速電壓，允許在一定的電子能量範圍內掃描樣品。SEM允許研究到納米級的表面特征。與能量色散X射線光譜（EDS）耦合時，用於測定被觀測材料的元素組成和化學狀態。JEM 1010有兩個探測器可用；壓縮立體角有限檢測器（SALD）和透鏡內檢測器（ILD）。SALD允許180度的收集角度,而ILD允許90度的收集角度。這兩種探測器都具有很高的收集靈敏度和可靠性。JEOL JEM 1010還有一個自動化的標本階段，允許標本在操作員的指揮下快速移動。此SEM可以收集各種放大倍數的數據,包括高達1000,000X的高放大倍數。這種高精度的SEM非常適合一系列應用,如表征表面形態、結晶度、晶粒尺寸、表面完整性、元素組成和結構缺陷。它的高分辨率和準確性也使得它適合許多與金屬、納米材料、聚合物、陶瓷和生物樣品有關的材料科學研究。最後，該儀器還常用於故障分析、MEMS表征以及工業測試與開發。