二手 JEOL JEM 1010 #9302701 待售

JEOL JEM 1010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於產生高分辨率圖像和放大倍數達五十萬倍的分析數據。設備的核心是其電子槍，它產生一個高能電子束，用於檢測、分析和成像納米級的表面和材料結構。該系統配備了先進的成像單元，允許S形掃描以低至1nm的分辨率捕獲數據。它還包括一臺用於材料分析的高分辨率反向散射檢測機和一臺具有用於數據分析的綜合分析軟件平臺的計算機。工具的核心是它的電子槍，它能夠產生電子束，其加速電壓範圍為0.5-30千伏，束電流為1 nA。該槍包括一個電子源、冷凝器透鏡和物鏡，以及其他幾個用於微調的透鏡和光圈。該資產配備了常規發射的熱電子和野外發射炮源。該控制模型采用精密掃描和高度精密的控制設備設計，可實現非常精確的圖像定位和操作。圖像是由電子束在采樣表面上的運動生成的，它被掃描以捕獲所需的數據。獲取圖像後,可以使用提供的軟件對其進行處理和分析。JEM 1010還包括多種專門的分析能力，如能量色散X射線光譜（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）、元素映射和空間解析光譜。此外，該系統允許使用低壓反向散射電子探測器檢查非導電表面，從而可以分析地形特征和表面特征。JEOL JEM 1010掃描電子顯微鏡是一個高度通用、用戶友好的單元，使研究人員能夠從細膩的納米級樣品和材料中捕獲高分辨率圖像和分析數據。通過將其強大的電子槍、精密的成像和分析能力以及集成的軟件機相結合，該工具是在各種應用中研發的理想工具。