二手 JEOL JEM 1011 #293658628 待售

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製造商
JEOL
模型
JEM 1011
ID: 293658628
Transmission Electron Microscope (TEM) Tungsten Does not include: CCD BRUKER EDS.
JEOL JEM 1011是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對從生物到礦物和材料科學樣本的各種樣品進行成像和分析。它能夠在高真空和低真空中運行,具有大視野、光電倍增管檢測和先進的控制系統。JEM 1011提供高分辨率成像,在二次電子(SE)模式下解析度低至1nm,在反散射電子(BSE)模式下解析度低至0.5 nm。SEM利用極高能量的電子束來記錄樣品表面的圖像。電子源是加熱的鎢絲,或稱場發射器,由反饋系統控制,允許精確控制束電流、能量和光斑大小。所有參數都可以調整以提供特定類型樣品的最佳條件。樣品支架被設計成可以容納標準的SEM樣品,並且可以在兩個方向上傾斜,允許從不同角度獲取圖像。為檢測樣品發出的電子,JEOL JEM 1011配備了大直徑、低噪聲光電倍增管探測器。它設計用於高精度定位,具有低噪聲前置放大器,可用於最佳信號檢測。檢測器可以檢測反向散射電子、二次電子或各種類型的X射線(特性、衍射等)。為方便對大表面成像,JEM 1011配備了自動化舞臺和樣本導航系統。這使用戶能夠快速準確地掃描樣本曲面,並提供示例概述,以更快速地識別感興趣的區域。此外,JEOL JEM 1011配備了強大的軟件套件,允許用戶調整SEM的所有設置,以及分析和操縱圖像。這包括用於定量圖像分析的工具、用於大視野的圖像縫合以及一系列圖像增強算法。JEM 1011為樣品表面的成像和分析提供了廣泛的功能,使用戶能夠快速準確地表征樣品的特征。它結合了高分辨率成像、精密的樣品處理系統和直觀的軟件,使得JEOL JEM 1011成為高分辨率成像和分析的理想儀器。
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