二手 JEOL JEM 1200EX II #9250371 待售
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ID: 9250371
Transmission Electron Microscope (TEM)
Goniometer stage
Side mount CCD camera
40 to 120 kV
Magnification: 150x to 300,000x
HT Tank leak.
JEOL JEM 1200EX II是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），專為多功能納米幹擾化應用而設計。該模型具有用於改進電子光學和更高分辨率成像的野外發射槍（FEG）。顯微鏡還結合了高穩定性的x-y級，用於快速準確的樣品掃描。SEM包括一個鏡頭內檢測器（IED）來檢測二次電子（SEs）和一個反向散射電子（BSE）檢測器來提供對不同樣品電導率更好的對比。電子GUN具有從1kV到30kV、樣品電流到200nA的加速電壓，是材料科學、生物和工業研究中納米幹擾化應用的理想選擇。JEOL JEM 1200 EXII配備了超高真空（UHV）技術，確保高水平的顯微鏡真空和清潔，使樣品的結構可以觀察到，而不受空氣分子或光束中帶電粒子的任何幹擾。該顯微鏡還可用於分析冷卡盤附件和氮氣冷卻至極低溫度的冷凍懸浮樣品。用16位CCD相機獲得高分辨率3D圖像，提高了樣本圖像的精度和分辨率。數碼相機被連接到可以使用亮場（BF）探測器、暗場（DF）探測器和反向散射電子（BSE）探測器的SEM炮塔。JEM 1200EX II提供了廣泛的附件選擇,包括陰極發光（CL）探測器、能量色散光譜（EDS）探測器、有限元場發射透鏡和自動掃描樣品的電動x-y級。與JEM 1200 EXII捆綁在一起的應用軟件允許對示例進行可定制的成像和分析。軟件包含幾個預設的圖像參數和自動優化功能,使用戶能夠獲得一致的圖像性能。也可以以不同格式存儲圖像和準備演示文稿。可選的用於自動化和高級分析的Analyze軟件進一步改進了此模型所獲得的成像結果。總體而言，JEOL JEM 1200EX II是納米幹擾化應用的理想選擇。它具有出色的成像功能,而且易於使用。軟件集成允許精確成像和自動圖像處理，使其成為研究人員的寶貴工具。
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