二手 JEOL JEM 1200EX II #9250558 待售
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ID: 9250558
Transmission Electron Microscope (TEM)
Magnification: 50x to 500,000x
GATAN ORIUS CCD Side mount digital camera
Standard magnification mode:
SAP10B: 800 to 600,000 times, 30 steps
SHP10: 1,200 to 1,000,000 times, 30 steps
SAP10: 600 to 500,000 times, 30 steps
Selected area magnification mode:
SHP10B: 4,000 to 500,000 times, 22 steps
SAP10: 2,000 to 250,000 times, 22 steps
Low magnification mode: 50 to 1,000 times, 14 steps
Electron diffraction camera:
Display: Digital, film printout
Selected area electron diffraction:
SAP10B: 150 to 3,500 mm, 15 steps
SHP10: 100 to 2,500 mm, 15 steps
SAP10: 200 to 5,000 mm, 15 steps
High disperation diffraction: 4 to 80 m, 14 steps
High resolution diffraction: 337 mm
Electron gun:
Type: Cool beam
Filament: Pre-centered hairpin type, DC heating
Bias: Self bias, continuously variable
Alignment: Electromagnetic 2-stage interlock system
Anode chamber valve and electron gun lift:
Built-in
Pneumatic control
Condenser lens: Electromagnetic, double condensers
Beam tilting angle: Maximum 6°
Specimen exchange: Airlock mechanism
Loading capacity: (2) Specimens
Specimen movement range:
X, Y Directions: ±1 mm
Z Direction: +0.2, -0.3 mm
Camera chamber:
Film size J: 59 mm x 81.5 mm
Loading capacity: Up to 50
Feeding and shutter: Automatic and manual
Exchange mechanism: Airlock type
Evacuation system:
Vacuum pumps: Oil rotary pump and oil diffusion pump
Ultimate pressure: 10^-5 Pa
Cooling water:
Flow space: 5 I/min
Pressure: 0.1 to 0.5 MPa
Temperature: 15°C - 20°C
Ground terminal: 100 ohms or less, 1
Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 6.5 kVA, Single Phase.
JEOL JEM 1200EX II掃描電子顯微鏡（SEM）是一種精密的科學設備，非常適合在微觀層面研究固體材料的物理性質。SEM基於從樣品表面釋放和檢測電荷的原理運行，允許高分辨率成像和分析。通過使用電壓、放大倍率和工作距離等變化的工作條件，SEM可以產生分辨率高達4納米的圖像，景深為30 µm。JEOL JEM 1200 EXII專為各級用戶而設計。其用戶友好的界面使其易於控制和設置，並帶有專用的按鈕用於常用功能。操作員可以輕松地在多光束SEM成像等成像模式之間切換，以提高對比度和分辨率，或者通過反向散射成像來更好地識別表面特征。此外，顯微鏡還可配備多種配件，以增強其樣品持有者、氣體控制系統、自動化樣品交換系統等性能和可用性。JEM 1200EX II結合了高性能、低網絡復雜性和易用性,為一系列材料科學應用提供了最佳可靠的成像。它配備了野戰發射槍和一套長期性能最大化的系統。這個系統過濾出槍室的碎片，延長槍的壽命，並提供一貫的高品質影像。電子槍還采用了高分辨率單色儀，以提高色彩精度和更好的圖像對比度。JEM 1200 EXII可與各種環境條件如高壓或低壓、高溫或低溫，以及氣體、液體或固體樣品一起使用。利用其自動化的樣品交換系統，顯微鏡可以在樣品之間輕松切換，無需任何人工。此外,SEM還提供可選的軟件選項來控制顯微鏡、測量和分析圖像,甚至存儲和處理數據。JEOL JEM 1200EX II是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡，旨在提供微觀尺度的物體成像和分析。憑借其高性能、易用性和靈活性，顯微鏡可以幫助研究人員快速準確地分析各種應用的材料。
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