二手 JEOL JEM 1200EX #293689969 待售

製造商
JEOL
模型
JEM 1200EX
ID: 293689969
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 1200EX是一種掃描電子顯微鏡(SEM),以其卓越的性能和強大的能力徹底改變了納米結構成像。此SEM提供了先進的支持性技術,如原位材料分析、像差校正、高精度掃描,以及更多提高成像質量的技術。它具有可變壓力成像能力,為更寬的樣品成像提供1 nm或更高的分辨率,特別是在亞微米水平。JEM 1200EX還具有隔熱真空室,可增強樣品的觀察和保存。JEOL JEM 1200EX具有先進的電子柱設計,其像差校正器和離軸照明可實現1nm的高質量成像分辨率。這款SEM配備了專用的初級電子槍系統,即使在高加速電壓下也能高效觀看,以及一臺掃描發生器,無論掃描速度如何,都能保證高圖像質量。這些組件的緊密集成使得掃描過程非常精確。而其高亮度的冷場發射技術有助於延長電子槍的壽命,顯著提高了所需圖像的檢測時間。JEM 1200EX的圖像質量通過其FIB-SEM光刻工具進一步提高,該工具結合了電子顯微鏡和聚焦離子束(FIB)的高分辨率樣品處理能力。這允許用戶創建、修改和測試極小的結構,使其成為細胞生物和納米技術研究的理想工具。FIB-SEM還可用於納米級蝕刻和沈積,使用戶能夠在常規納米加工技術範圍之外快速有效地修改表面。JEOL JEM 1200EX的另一個優點是其靈活的體系結構,可實現顯微鏡的遠程操作和最佳配置。它在柱子前門設有電腦觸摸面板,方便用戶訪問攝像頭和系統設置,以及樣品選擇和掃描。系統還可以連接到各種外部設備,用於樣品加載、成像和分析。總之,JEM 1200EX是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡,為改進樣品觀測和操作提供了一系列先進的成像技術和特點。它的1nm分辨率、高亮度電子槍、能幹的掃描發生器和FIB-SEM特性,使得納米級的成像和樣品操作變得難以置信,成為納米技術和細胞生物學研究的必備工具。
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