二手 JEOL JEM 1200EX #293830721 待售

JEOL JEM 1200EX掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於成像生物樣品、金屬、陶瓷和半導體的高性能分析工具。SEM的分辨率可達1 nm,非常適合廣泛的研究和工業應用。它是一種既提供高分辨率成像又具有微分析能力的電子顯微鏡。JEM 1200EX是一種開放式設備,可輕松集成到現有的實驗室設置中。SEM配備了超高真空室和包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、能量色散X射線探測器在內的一系列先進探測器。SEM由先進的電子系統驅動,具有優化成像的處理能力。通過該電子設備，SEM具有強大的分析功能，如自動峰值檢測和全粒子分析。此外,SEM還具有亮場和暗場成像功能,可對樣品結構和表面特征進行深入調查。SEM提供aresolution pf 0.7 nm,最高放大倍數可達30,000X。此外，該機還具有自動傾斜功能，能夠快速掃描高角度傾斜（HAO）照明模式下的樣品特征。反向散射電子探測器能夠在成像和光譜模式下工作。SEM配備了用戶友好界面，簡化了樣品加載。它能夠由集成軟件工具控制的自動化階段對齊。這種自動對準能確保樣品在電子束下處於正確的位置。此外，SEM具有計算機控制的操作能力，非常適合研究實驗室。總體而言,JEOL JEM 1200EX是一種先進的SEM資產,具有卓越的成像性能.由於具有超高真空室、強大的探測器和先進的控制模型，SEM用途廣泛，具有廣泛的應用能力。先進的成像設備提供分辨率為0.7 nm的明暗場成像模式。最後，使用簡單的用戶界面，SEM是任何研究應用的絕佳選擇。