二手 JEOL JEM 1210 #9204269 待售

JEOL JEM 1210是為實驗室和工業應用而設計的掃描電子顯微鏡（SEM）。該裝置具有一個大的真空室，並提供從10X到30,000X的放大範圍。它使用與樣品成90°的檢測器,提供樣品的3D視圖。另外，電子槍具有0.5至30 KeV的可控能量範圍，提供微調影像深度的能力。JEM 1210采用獨特的「高角度」照明噴霧,改善了光束電流均勻性,更好地覆蓋更大的樣品。該儀器還包括掃描功能，如「Sub-Scan」，它允許用戶以一個選定的因子放大圖像直至30X，以及「Super-Scan」，它可以將成像速度比標準掃描速度提高多達200倍。JEOL JEM 1210包含一系列旨在增強成像性能的功能。專用的「加速度場校正」模式可補償樣品附近磁場引起的任何失真。除了成像之外，「電子微觀分析」選項還可以對樣品進行定量分析。該單元還允許用戶從樣品中收集X射線光譜，提供有關樣品的元素信息。JEM 1210集成了多種用於檢測和分析的外圍設備附件。該系統包括一級分離器探測器、二級掃描單元和數字成像設備，實現了快速的性能和優異的效果。該設備還包括一個搜索單元和階段單元，允許對樣本進行精確掃描和操作。此外，JEOL JEM 1210還包含用於自動控制系統和對掃描中各種功能進行集成控制的自定義軟件。憑借其廣泛的先進功能，JEM 1210為用戶提供了一個強大的工具，用於成像和分析各種材料，從原子和分子到半導體和納米結構。這一通用的SEM是一個有效的解決方案，全面的樣品分析和成像。