二手 JEOL JEM-1230 (HC) #9207453 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 9207453
優質的: 2004
Transmission electron microscope (TEM) Selected area electron diffraction (SAED) capable EDS Accessories: HASKRIS R100E111CG Chiller GATAN 894 2k x 2k Ultrascan 1000 CCD GATAN 792 1k x 1k Multiscan 600W PENTA EM-11170-5 Specimen hold DELL P3800 Pentium 4 Computer NEC LCD 1800SX 18" Display EPSON C84 Inkjet printer With single tilt holder (5) Specimens holders (2) Cameras: High resolution: External computer runs with high resolution Low mag: Graphics card included Includes: Spare aperture strips LaB6 Filament Documentation 2004 vintage.
JEOL JEM-1230 (HC)是一種先進的高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),具有高對比度圖像和高景深的卓越成像和分析能力。這是通過使用高壓電子槍、光柵掃描類型和能夠實現高精度操作的後處理設備來實現的。該系統還通過內置命令控制臺提供了廣泛的映像模式和示例處理功能。該單元從其令人印象深刻的一系列樣本操作工具中衍生出其強大的圖像分析能力,包括可調節水平傾斜、旋轉采樣級和自動對焦機。內置的命令控制控制臺是為了減少用戶錯誤而量身定制的,允許用戶輕松輸入參數並與顯微鏡的系統進行交互。顯微鏡的高質量成像和數據分析能力可以通過隨附的能量過濾檢測器(EFD)工具得到進一步增強,該工具允許光元素分析,並允許用戶從圖像中去除不希望得到的信號。EFD資產還為圖像增加了進一步的對比和細節。JEOL JEM-1230 (HC)支持多種成像技術,從對比度增強到多級對比度,再到納米級成像。借助先進的對比技術,您可以獲得強大的成像和數據分析。隨著其性能的提高,JEOL JEM-1230(HC)可以產生結果,而無需常規的掃描電子源。此外,JEOL JEM-1230(HC)提供了一個直觀的用戶界面,可以讓用戶平穩準確地操作顯微鏡。已經開發了一套綜合自動化工具,以盡量減少時間和精力,同時最大限度地提高高質量的成果。總體而言,JEOL JEM-1230 (HC)是一種先進的高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),由於具有可調水平傾斜度、旋轉采樣級、自動對焦模型和能量過濾檢測器(EFD)設備等令人印象深刻的特點,具有卓越的成像和分析能力。憑借其直觀的用戶界面、自動化工具和最先進的成像功能,JEOL JEM-1230 (HC)的用戶可以以最小的努力獲得強大的圖像和數據分析。
還沒有評論