二手 JEOL JEM 1230 #293820131 待售

JEOL JEM 1230掃描電子顯微鏡（SEM）是工業和科學應用中最主要的掃描電子顯微鏡系統之一。JEM 1230利用二次電子（SE）進行成像，也可用於二次離子質譜（SIMS）、樣品中耗盡電壓等電性能分析、掃描透射電子顯微鏡（STEM）分析。JEOL JEM 1230配備了觸摸屏用戶界面，簡化了設備的操作，讓用戶能夠快速訪問和調整成像參數。該用戶界面提供對掃描電子顯微鏡設置的訪問，包括槍傾斜角度、物鏡選擇、圖像聚焦、光束強度和加速電壓。JEM 1230具有一個用於增強成像的冷場發射源,能夠在低kV應用中成像樣品（最低到100V個）,並且能夠對要求更高的應用進行30KV。JEOL JEM 1230可用於生成高分辨率和分析數據,使其成為各種應用程序的理想選擇。它能夠產生高分辨率的圖像,放大範圍可達150,000X。JEM 1230還具有一個柱內可旋轉的樣品架，允許對樣品進行旋轉觀察。此特征提供了增強分析樣本的結構特征或幾何的獨特功能。此外，JEOL JEM 1230配備了自動化階段和集成對準顯微鏡，允許用戶快速高效地快速掃描樣品。JEM 1230還配置了冷卻探測器，這使得系統能夠在各種成像應用中使用。JEOL JEM 1230控制和監控成像過程參數，以增強操作和安全。它還包括自動對準單元、光束電流控制機以及在成像過程中監測和控制試樣溫度的先進控制工具等功能。JEM 1230具有高清成像資產,可提高圖像清晰度和色調範圍。該模型允許以更高的細節和精確度對樣品進行成像。成像設備專為小顆粒而設計，晶粒尺寸分辨率低至1微米。JEOL JEM 1230是一個先進的掃描電子顯微鏡系統，設計用於需要高分辨率和分析成像的工業和科學應用。它是最苛刻的成像應用的完美選擇，從低kV成像到更高kV的應用，如SIMS和STEM。