二手 JEOL JEM 1230 #9115435 待售

JEOL JEM 1230掃描電子顯微鏡是一種場發射型掃描電子顯微鏡，能夠在兩倍於早期SEM的分辨率的情況下進行高分辨率成像。這種顯微鏡在比其他SEMs更低的加速電壓下工作，這在對易碎樣品成像時是有利的。JEM 1230裝有高電流場發射槍。該槍經過研發，使施加在其上的加速電壓可以從4 kV選擇到30 kV。這樣就可以進行從近場到遠場作業的廣泛成像。JEOL JEM 1230 SEM還有一個高靈敏度的表面溫度控制系統，可用於在光柵掃描模式下控制樣品的表面溫度。這樣可以在成像過程中調節試樣的溫度，以保存細膩的結構。JEM 1230能夠從超導電到絕緣樣品進行分析。這種顯微鏡上有專門的技術，如X射線熒光用於長距離分析，EDS用於元素組成分析。EDS系統包括一個能量色散X射線探測器，用於高靈敏度和分辨率。一個集成的SSC/EELS探測器能夠對標本進行原子分辨率的現場分析。JEOL JEM 1230還包括一個計算機控制的光束遮擋器。當光束撞擊樣品或離開樣品圖像時,此設備會自動關閉光束。JEM 1230配備了提供20 kHz掃描速度的雙攝像頭和圖像處理系統。它結合了高分辨率、高速成像性能和快速圖像采集功能。顯微鏡還包括一個傾斜級，允許+/-15°的角度傾斜到試樣級，並可用於地形分析缺陷。JEOL JEM 1230 SEM有一個全自動級，可進行直徑可達10毫米的試樣裝載。總體而言，JEM 1230掃描電子顯微鏡是研究實驗室和工業應用的理想工具。它的高分辨率成像和種類繁多的專門技術使其適合於各種各樣的任務。它的自動功能也使它易於使用並有助於確保最高質量的結果。