二手 JEOL JEM 1230 #9208907 待售

JEOL JEM 1230是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於成像各種具有挑戰性的樣品。這種高分辨率的高級顯微鏡具有大視場（FoV）和槍管更長的電子槍，在成像過程中具有更大的聚焦深度。它還配備了高分辨率的列以獲得最大的分辨率和細節。JEM 1230被封裝在聲波和隔振櫃中，使其成為即使是最靈敏的納米級成像的理想選擇。JEOL JEM 1230的核心是其先進的SEM技術。槍產生一個電子束，聚焦在樣品上生成掃描圖像。強大的槍柱設置允許顯微鏡在高速獲取圖像的同時達到低至0.2 nm的分辨率。這使得它適合多種應用，如探索材料、測量標本特性、研究粒子行為等。除了JEM 1230的高級成像功能外,它還包括一系列高級功能,可用於增強成像和分析。例如，它的近光電流技術和大量的樣品處理方法使得即使是最復雜的樣品也能更好地成像。此外,內置的圖像縫合功能使您可以輕松生成樣本的較大圖像。JEOL JEM 1230還提供WDS和ED-FEG元素分析和組成分析工具。這使得顯微鏡能夠提供標本的元素圖，顯示存在元素的分布和濃度。JEM 1230設計可靠,易於使用。人體工程學設計允許用戶快速、輕松地訪問顯微鏡的所有區域，而直觀的用戶界面則讓用戶能夠訪問一系列成像、分析和采集功能。這使得它成為廣泛用於研究和工業應用的理想選擇。