二手 JEOL JEM 1230 #9226959 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 9226959
優質的: 2005
Transmission electron microscope (TEM)
Digitized microscope controlled by microprocessor
Motorized 5-axis object stage
Active matrix color monitor (TFT)
Interactive control of operating parameters by mouse / Console
Backup of operating parameters and control
Programmable personal files
Standard RS 232 C connections
Guaranteed resolution: 0.20 nm in periodic system
Acceleration voltage:
40 to 120 kV
Plot minimum: 50 V
Programmable
Magnification range:
50 x 1000 x (Low MAG function)
1000 x 600,000 x (MAG function)
Object tilt: +/- 45°
2005 vintage.
JEOL JEM 1230是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。它提供了先進的分辨率和圖像質量，可用於各種科學和工業成像應用。多合一設備具有石英單色儀和高分辨率電子光學透鏡，以及超高速掃描速度。它具有20X到1,000,000X的各種掃描放大倍數,可以對各種樣品進行詳細分析。該SEM還具有內置的微分析系統，可用於獲取氧氣、碳、硫等元素信息。它具有30千伏的最大加速電壓，允許更高的分辨率和近束電流，以減少樣品損壞。精密的軟件包允許直觀和方便的用戶控制儀器。這包括設置數據采集參數、控制掃描速度和控制圖像增強。軟件還具有圖像編輯和圖像分析功能,以及3D圖像映射功能,可用於詳細分析。JEM 1230是一種通用可靠的工具，在納米技術和材料科學等廣泛的應用中提供高分辨率成像。它配備了一個先進的線程探測器，可以快速獲取半自動系統的圖像，例如用於亞微米成像的系統。此外,SEM還包含一個數碼相機,可以用目鏡進行直接觀察。總體而言,JEOL JEM 1230是一款先進且高度可靠的SEM,具有出色的圖像質量。它提供了出色的分辨率和對各種樣品進行詳細分析的能力，以及方便用戶使用和控制儀器的界面。此外,內置的分析單元和3D圖像映射功能使操作員能夠獲得對樣本特征的詳細了解。該機器非常適合各種應用,為行業和研究提供了寶貴的支持。
還沒有評論