二手 JEOL JEM 1230 #9245614 待售

JEOL JEM 1230是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和樣品分析。該儀器采用能量色散X射線光譜儀（EDS）和超高分辨率STEM探測器，為材料的微觀結構評估、故障分析、空間材料科學和材料評估等多種應用提供卓越性能。JEM 1230在最佳條件下提供高達5 nm的卓越分辨率。這樣就可以對細微的細節進行成像,從而有助於表征樣品的組成、結構和形態。顯微鏡使用倒置的180°傾斜幾何形狀,可確保樣品從上往下成像。這提供了對大型樣品進行高效表征而無需頻繁重新定位的優勢。JEOL JEM 1230使用高亮度、長壽命、低運營成本的肖特基野戰發射槍（FEG）。這種尖端設計最大限度地減少了非導電樣品的充電，並允許樣品圖像的出色對比度。而且顯微鏡具有高達135 kV的加速電壓，以獲得更大的景深和更高的分辨率。為確保高精度分析和一致結果，整合了各種自動化功能。其中包括圖像對比度的自動優化、集成的基準系統和實時數字圖像增強。此外，該儀器還有一個用於樣品裝載和定位的電動級，以及一個先進的過濾系統，它允許對低至1海裏的粒子進行表征。或JEM 1230是一種高性能掃描電子顯微鏡，具有優異的分辨率和強大的特征集，用於對各種樣品進行成像和分析。該儀器具有高亮度、低運行成本的肖特基野外發射槍（FEG）、可確保對大樣品進行高效成像的倒置180°傾斜幾何形狀和高達135 kV的加速電壓以提高圖像質量。為了精確的樣品分析和表征，JEOL JEM 1230集成了能量色散X射線光譜儀（EDS）和超高分辨率STEM探測器。此外，一些自動化的功能，如圖像對比度的自動化優化和粒度的自動化優化，使得分析樣本更容易、更快。這些特性結合電動舞臺和實時數字圖像增強功能，使JEM 1230成為材料微觀結構評估、故障分析、空間材料科學和材料評估的絕佳選擇。