二手 JEOL JEM 1230 #9248904 待售

JEOL JEM 1230是采用最新成像技術設計的高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。其符合人體工程學的設計具有大的傾斜範圍，大的電動舞臺，以及寬腔室選項，以提高靈活性。JEM 1230能夠掃描尺寸可達250 x 250 mm的樣品,放大倍數可達250,000 x。這允許觀察曲面拓撲、局部差分相位對比度和圖像剖面。JEOL JEM 1230是一款低真空SEM，帶有無油隔膜泵，需要最少的參加者進行維護，最終延長使用壽命。它還有一個用於引入二次電子的集成氣體噴射器系統，以更快的速度幫助檢測改進和特性。JEM 1230還具有廣泛的探測器陣列，包括可變壓力檢測器、二次電子檢測器和反向散射電子檢測器，每個檢測器都設計用來捕獲樣品的各種元素。可變壓力探測器旨在提高表面靈敏度，能夠在1Pa ~ 15Pa之間切換。另外，二次電子檢測器能夠選擇圖像形成，可以用來觀察標本拓撲結構以及表觀厚度和表觀粗糙度。反向散射探測器的設計目的是獲取樣品表面的形狀，並以任意給定的放大倍率捕獲各種特征。JEOL JEM 1230進一步配備了多模數碼相機系統，能夠從標本中捕捉多張影像，然後將其縫合在一起，以獲得卓越的清晰度和細節。Sem支持快速圖像采集和靈活的EDX（能源色散X射線）測量,最多可用於四個獨立的探測器。系統的操作幾乎毫不費力,它具有高度耐用的用戶界面,能夠提供無縫數據、軟件兼容性和遠程操作。此外，JEM 1230非常適合工業檢驗和研究應用，提供多種材料的高分辨率成像。該SEM采用的最先進的成像技術提供了無與倫比的靈活性和準確性，迎來了SPM性能的新時代。